STAr Technologies
2000年に設立したSTAr Technologies社は台湾新竹に本社をおき、半導体デバイスの信頼性試験システムと、デバイスの電気特性試験(パラメトリックテスト)で用いられる、微小電流測定用、低リーク(100fA/V)、低高温(-65〜400度)向けプローブカードを中心にビジネスを展開しています。 また、RFデバイス、CMOSイメージセンサー、半田バンプやSiC、GaNに代表される高耐圧デバイス評価など、各種デバイスに対するソリューションを提供しております。
