パラメトリックテスト用プローブカード(Virgo)

パラメトリックテスト用プローブカード(Virgo)

Agilent4070シリーズやセミオートプローバー向けに対応したパラメトリック用プローブカードです。広範囲な温度条件、低リーク、低ノイズに対応し、微小電流測定に最適なプローブ・ソリューションをご提供いたします。

Keysight 4070 / 4080 シリーズ向けに「Virgo-PROシリーズ」、セミオートプローバーの4.5インチカードホルダー向けに「Virgo-SEMIシリーズ」などをご提供いたします。

Virgo-Pro シリーズ

高低温テスト対応

プローブカード基板にセラミック基板を採用することによって、より高温での安定したテストが実施できます。特に厳しい条件でのテストが必要な車載用デバイスの評価にも適しています。また広範囲な温度での試験環境(-40℃〜300℃)への対応も可能です。

小Pad、狭Pitch対応

スクライブ・ラインの狭小化により、TEGのパッドサイズやパッドピッチも小さくなる傾向があるため、カンチレバータイプまたは垂直タイプのプローブカードで小Pad,狭Pitchへの対応も可能です。

Virgo-SEMI シリーズ

セミオートプロ―バ向けに4.5インチカードホルダーに対応したプローブカードをご提供いたします。

お問い合わせ

テストソリューション本部

TEL:045-474-8824